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  Shanghai Haijiang NanoSci & Tech Co. Ltd

 

 

 

 


                       
地址:上海曹杨路505号尚诚国际大厦508 邮编200063

 

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主要产品

美国KLA-Tencor公司超微力台阶仪
美国KLA-Tencor公司光学轮廓仪
The AFM Worksho原子力显微镜
法国SOPRALAB公司光谱式椭偏仪
法国Stil公司共焦三维轮廓仪
NanoWorld原子力显微镜探针及配件
NanoSensors原子力显微镜探针及配
BudgetSensor原子力显微镜探针及配件
MikroMasch原子力显微镜探针及配件

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主要产品

KT公司
超微力台阶仪/膜厚仪
(
用于薄膜,厚膜FPD(LCD,TP,CF),MEMS
太阳能,LED,光电子...)

XP-1/XP-2
XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300
α-step IQ(100,200,250,500)
α-step P7 P6

α-step P17(P1,P2,P10,P11,P11,P15 P16+)
α-step P17OF P16+0F

KT公司
光学轮廓仪
(
白光干涉/ 移相干涉仪)

MicroXam 100
MicroXam 1200

膜厚
摩擦学
超精密光学及机械加工表面
MEMS
太阳能
LED(PSS)
光电子器件
LCD

AST公司
光谱式反射膜厚仪

单点测量: SR100 SR300S SR400 SR450 SR500
显微镜微斑测量:
MSP100 MSP300S MSP400 MSP450 MAP500
自动多点测量:
SRM100 SRM300 SRM400 SRM450 SRM500
在线测量:
深紫外/可见光/近红外
测量: 光刻胶(100um以上厚胶),PI, SiO2,
SiN, PolySi,LCD,OLED,

 

Zeta公司
光学轮廓仪

Zdot技术
白光干涉技术
干涉反衬成像技术
白光差分干涉技术
反射膜厚技术


 

MNC公司
MN-1
光谱色散3D轮廓仪

测量三维形貌,微纳结构
测量平整度,波度,翘曲度
测量纳米级粗糙度
测量基片/基板/箔片的厚度
测量大型异型件(球面,非球面)


    Solar Polymer,

MNC公司
MN-2
太阳能及湿膜厚度测量

厚膜电路
丝网印刷
太阳能
太阳能绒面
粗糙度,平整度

 

MNC公司
GT-100
玻璃厚度测试仪

测量玻璃厚度
测量TTV
在线测量
适用于其他透明材料

Stil公司
共焦传感器

共焦传感器
共焦轮廓仪
厚度测试仪


NanoSurf
原子力显微镜

Nanio型小样品原子力显微镜
Flex型原子力显微镜 (可用于倒置光学显微镜)
Nanite型大样品原子力显微镜
超大型原子力显微镜

 


AST公司光谱式椭偏仪

极深紫外光谱式椭偏仪
深紫外光谱式椭偏仪
可见光光谱式椭偏仪
近红外光谱式椭偏仪
红外光谱式椭偏仪
半导体用全自动工业椭偏仪
FPD用全自动工业椭偏仪
Solar用全自动工业椭偏仪

 

MNC公司 WT-100
半导体衬底厚度测量设备

Si
兰宝石Al2O3
玻璃/LCD大尺寸玻璃
光学晶体
SiC
GaAs
/多晶太阳能硅片
背减薄厚度测试
粗糙度,平整度
在线厚度检测

 

探针种类:
全球最尖的1nm探针
导电探针
金刚石探针
力标定探针
深宽比探针
CNT
探针
磁力探针
化学探针
无针尖悬臂梁
特殊探针

 

原子力显微镜
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